Comparative analysis of synchrotron X-ray transmission and reflection topography techniques applied to epitaxially overgrown GaAs layers
- Afiliacje: ON4, ON4.5
- Data opublikowania (wydrukowania): 15-04-00
- Strony: 277-288
- Wolumin: 8 (4)
- Autor: Rantamaki R., Tuomi T., Żytkiewicz Zbigniew, McNally P. J., Danilewsky A. N.
- Tytuł publikacji: Comparative analysis of synchrotron X-ray transmission and reflection topography techniques applied to epitaxially overgrown GaAs layers
- Rok: 2000
- Czasopismo / konferencja / monografia: Journal of X-ray Science and Technology
Journal of X-ray Science and Technology, 8 (4) (2000)
