Investigation of system Si-O (SiOx) behavior in DAC at submegabar pressure
- Afiliacje: SL1, SL1.3
- Data opublikowania (wydrukowania): 01-01-01
- Strony: 110-115
- Wolumin: 4412
- Autor: Efros B.M., Shishkova N. V., Prudnikov A., Misiuk A., Bąk-Misiuk Jadwiga, Hartwig J.
- Tytuł publikacji: Investigation of system Si-O (SiOx) behavior in DAC at submegabar pressure
- Rok: 2001
- Czasopismo / konferencja / monografia: Proceedings of the SPIE - The International Society for Optical Engineering
Proceedings of the SPIE - The International Society for Optical Engineering, 4412 (2001)
