Relaxation of InGaN thin layers observed by x-ray and transmission electron microscopy studies
- Afiliacje: SL1, SL1.3
- Data opublikowania (wydrukowania): 01-04-01
- Impact factor: 1
- Impact factor txt: 1,501
- Strony: 439-444
- Wolumin: 30 (4)
- Autor: Liliental-Weber Z., Benamara M., Washburn J., Domagała Jarosław Z., Bąk-Misiuk Jadwiga, Piner E., Roberts J. C., Bedair S. M.
- Tytuł publikacji: Relaxation of InGaN thin layers observed by x-ray and transmission electron microscopy studies
- Rok: 2001
- Czasopismo / konferencja / monografia: Journal of Electronic Materials
Journal of Electronic Materials, 30 (4) (2001)
