Structural characterization of MBE-grown HgSe:Fe layers: X-ray diffraction and Raman spectroscopy
- Afiliacje: ON1, ON1.1, SL1, SL1.3
- Data opublikowania (wydrukowania): 01-06-00
- Impact factor: 1
- Impact factor txt: 1,492
- Strony: 269-274
- Wolumin: 214-215
- Autor: Szuszkiewicz Wojciech, Bąk-Misiuk Jadwiga, Dynowska Elżbieta, Jouanne M., Morhange J. F., Wissmann H., Tran Anh T., Von Ortenberg M.
- Tytuł publikacji: Structural characterization of MBE-grown HgSe:Fe layers: X-ray diffraction and Raman spectroscopy
- DOI: https://doi.org/10.1016/S0022-0248(00)00087-7
- Rok: 2000
- Czasopismo / konferencja / monografia: Journal of Crystal Growth
Journal of Crystal Growth, 214-215 (2000)
