Study of gallium-arsenide thin-film structure by means of triple-crystal X-ray diffractometry
- Afiliacje: SL1, SL1.3
- Data opublikowania (wydrukowania): 01-02-01
- Impact factor txt: 0,18
- Strony: 241-254
- Wolumin: 23 (2)
- Autor: Klad'ko V., Domagała Jarosław Z., Molodkin V., Olikhovskii S., Datsenko L., Manninen S., Maksimenko Z. V.
- Tytuł publikacji: Study of gallium-arsenide thin-film structure by means of triple-crystal X-ray diffractometry
- Rok: 2001
- Czasopismo / konferencja / monografia: Metallofizika i Noveishie Tekhnologii
Metallofizika i Noveishie Tekhnologii, 23 (2) (2001)
