Effect of stress on interface transformation in thin semiconducting layers
- Afiliacje: ON1, ON1.2, ON4, ON4.5, SL1, SL1.3
- Data opublikowania (wydrukowania): 22-12-00
- Impact factor: 1
- Impact factor txt: 1,101
- Strony: 117-119
- Wolumin: 380
- Autor: Bąk-Misiuk Jadwiga, Domagała Jarosław Z., Misiuk A., Sadowski Janusz, Żytkiewicz Zbigniew, Trela Jadwiga, Antonova I. V.
- Tytuł publikacji: Effect of stress on interface transformation in thin semiconducting layers
- DOI: https://doi.org/10.1016/S0040-6090(00)01528-5
- Rok: 2000
- Czasopismo / konferencja / monografia: Thin Solid Films
Thin Solid Films, 380 (2000)
